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用万用表测量内存芯片的方法 | |||
2007-3-28 18:08:37 文/网络收集 出处:电脑软硬件应用网 | |||
所以用万用表测试芯片时也可用测试仪的方法来测,只要红笔对地(1脚),黑笔测量排阴阻的阻值,就是内存芯片数据位的阻值来判断是哪个芯片坏了,正常的话每个数据位阻值相同。但还是没有测试仪那么直观,用这种方法可测量DDR内存芯片的好坏。 二、 用测试仪测量内存芯片方法 根据使用说明书,测量的内存在2A、2B这里,指单组和双组的意思。但16位的芯片有8个,也相当于是两组,8位的芯片有16个也相当于两组。2A为第二组,2B为第一组。 测量时会循环测试每一组中的每一个芯片的数据位脚。一般测了3次—5次没坏就是好的。好的芯片为:PASS。坏的芯片就显示出坏的数据位引脚。 1、 开机跳不进测试,一般有:芯片短路、PCB板短路。解决方法为把芯片拆下来换到好的PCB板上试芯片好坏,看是什么问题。 2、 内存测试仪不测试SPD芯片,SPD芯片可有可无 3、 金手指烧了的话也不能测试,必须把芯片拆下换到好的PCB板上试芯片好坏 |
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